Test of Digital and Mixed-Signal Circuits
Fehlerhafte Systeme sind ein Ärgernis für alle Nutzer. Moderne Testverfahren helfen den Herstellern, möglichst viele Fehler bereits vor der Auslieferung an den Kunden zu erkennen. So werden teure Rückrufaktionen vermieden und das Qualitätsempfinden steigt.
Ziel der Lehrveranstaltung ist das Sensibilisieren der Teilnehmer für die Testproblematik und das Kennenlernen von Methoden des testfreundlichen Entwurfs. Diese umfassen sowohl Maßnahmen direkt in der Hardware als auch Algorithmen für entsprechende externe Testgeräte.
Die Lehrveranstaltung besteht aus Vorlesung, Übung und Seminar.
Die Lehrveranstaltung wird in englischer Sprache gehalten.
Im Wintersemester 2026/27 beginnt der Kurs am 14.10.2026 15:30 hybrid im angegebenen Hörsaal und in Zoom Zoomlink. Bitte melden Sie sich im OPAL an. Dort finden Sie die jeweils aktuellen Informationen zur Durchführung.
Kursmaterial
Ist in OPAL verfügbar: Einschreibung.
Lehrinhalte
- Bedeutung des Tests, Teststrategien
- Fehlermodelle
- Testmustererzeugung
- Testfreundlicher Entwurf
- Boundary Scan
- Industrieller Test
Prüfung
Informationen zur Prüfung werden in der Vorlesung bekannt gegeben.
