Test of Digital and Mixed-Signal Circuits

Fehlerhafte Systeme sind ein Ärgernis für alle Nutzer. Moderne Testverfahren helfen den Herstellern, möglichst viele Fehler bereits vor der Auslieferung an den Kunden zu erkennen. So werden teure Rückrufaktionen vermieden und das Qualitätsempfinden steigt. 

Ziel der Lehrveranstaltung ist das Sensibilisieren der Teilnehmer für die Testproblematik und das Kennenlernen von Methoden des testfreundlichen Entwurfs. Diese umfassen sowohl Maßnahmen direkt in der Hardware als auch Algorithmen für entsprechende externe Testgeräte.

Die Lehrveranstaltung besteht aus Vorlesung, Übung und Seminar.

Die Lehrveranstaltung wird in englischer Sprache gehalten.

Im Wintersemester 2025/26 beginnt der Kurs mit einer Onlineveranstaltung am 13.10.2025 11:30 in Zoom Zoomlink angeboten. Bitte melden Sie sich im OPAL an. Dort finden Sie die jeweils aktuellen Informationen zur Durchführung.

Kursmaterial

Ist in OPAL verfügbar: Einschreibung. 

Lehrinhalte

• Bedeutung des Tests, Teststrategien
• Fehlermodelle
• Testmustererzeugung
• Testfreundlicher Entwurf
• Boundary Scan
• Industrieller Test

Prüfung

Informationen zur Prüfung werden in der Vorlesung bekannt gegeben.

Termine

Das Vorlesungsverzeichnis wird momentan überarbeitet. (Freischaltung 31.08.2026 00:00 Uhr)