Lehrveranstaltung Applied Circuit Design and Testing

Ziel dieser Lehrveranstaltung ist eine intensivere Auseinandersetzung mit den Entwurfsprozessen und Testmöglichkeiten digitaler Hardware sowie das effiziente Ausnutzen der vorhandenen Hardware-Strukturen. Dazu wird einerseits genauer auf einen synthesegerechten Entwurf sowohl für FPGA wie auch für ASICs eingegangen. Dazu soll ein digitales Design auf Basis eines FPGA implementiert und getestet werden. Auf dem Weg dorthin kann fächerübergreifend erworbenes Wissen vertieft werden, indem unterschiedlichste Fragestellungen zu beantworten sind, unter anderem:

• Wie kann die Designumgebung ausreichend detailgetreu modelliert werden?
• Wie sollte der VHDL Code gestaltet werden, um die gewünschten Hardwarestrukturen zu erzeugen?
• Welche Testmöglichkeiten bestehen in digitalen Schaltungen
• Wie funktioniert ein industrielles Testsystem

Die Lehrveranstaltung Applied Circuit Design and Testing, bestehend aus Seminar und Praktikum, beschäftigt sich in einem Semester mit dem praktischen Einsatz kommerzieller Entwurfs- und Testtools. Sie baut auf dem in den Lehrveranstaltungen "Design of heterogenous Systems" und "Test of Digital and Mixed-Signal Circuits" erworbenen Wissen über Entwurf, Modellierung und Test von Systemen auf. Weiterhin wird ein Überblick über verschiedene Entwurfs- und Testtools gegeben, die im Praktikum für den Entwurf und die Validierung einer komplexen Designaufgabe notwendig sind. Das Seminar liefert das notwendige theoretische Hintergrundwissen über synthesegerechte Beschreibung und Testgestaltung sowie über zugehörige Ansätze und Algorithmen.

Die Lehrveranstaltung findet im Wintersemester statt.

Bei Interesse melden Sie sich bitte im OPAL-System an.