Pressemitteilung vom 04.05.2005

"Sensor + Test 2005": Einkristallines Silizium speichert das richtige Maß

Wenn Messgeräte auf das richtige Maß geprüft werden, spricht der Fachmann vom Kalibrieren. Dabei wird das zu prüfende Gerät mit einem genaueren Referenzinstrument oder so genannten Kalibriernormalen verglichen. Abweichungen werden notiert und die Messabweichung errechnet. Und in einem Zertifikat - beispielsweise der Physikalisch Technischen Bundesanstalt in Braunschweig - kann dann bestätigt werden, welches Mass das Normal verkörpert. Diese Prozedur mag einfach klingen, kann aber für den Unternehmer sehr teuer werden. Denn er muss seine Messgeräte regelmäßig überprüfen lassen. Und das kostet Geld. Doch die Investition in die Kalibriernormale wird für viele Messgerätehersteller immer zwingender, wenn sie mit ihren Produkten am Markt bestehen wollen.

Wissenschaftler der Fachgruppe Werkstoffe der Technischen Universität Chemnitz und Mitarbeiter der aus der TU ausgegründeten SiMetricS GmbH Limbach-Oberfrohna entwickelten neue Normale, die aus einkristallinem Silizium gefertigt wurden. Mit diesen Si-Normalen können berührend oder optisch arbeitende Geräte der Topografie-, Oberflächen- und Mikrohärte-Messtechnik überprüft werden. Aufgrund seiner Eigenschaften ist einkristallines Silizium hervorragend als Werkstoff für Maßverkörperungen von Längen und Kräften geeignet. Eigenschaften wie strukturelle Perfektion, kleine thermische Ausdehnung, hohe Wärmeleitfähigkeit, wenig temperaturabhängige elastische Konstanten und beachtliche Härte und Korrosionsbeständigkeit sprechen für das Silizium.

Die Forschungspartner stellen ihre Ergebnisse erstmals vom 10. bis 12. Mai 2005 auf der Messe "Sensor + Test 2005" in Nürnberg, dem weltweit führenden Forum für Sensoren, Mess- und Prüftechnik, vor. Auf dem mitteldeutschen Gemeinschaftsstand "Forschung für die Zukunft" (Stand 829) in Halle 7 der Nürnberger Messe werden Tiefeneinstellnormale, Längennormale, Rillengitter, Ebenheitsnormale sowie Kraftnormale präsentiert.

Weitere Informationen: TU Chemnitz, Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik, Fachgruppe Werkstoffe der Elektrotechnik/Elektronik, 09107 Chemnitz, Prof. Dr. Joachim Frühauf, Telefon (03 71) 5 31-31 78, Fax (03 71) 5 31-32 02, E-Mail joachim.fruehauf@e-technik.tu-chemnitz.de , sowie SiMetricS GmbH, Am Südhang 5, 09212 Limbach-Oberfrohna, Telefon/Fax (03 722) 81 54 21, E-Mail gaertner@simetrics.de, http://www.simetrics.de

Die Messe "Sensor + Test 2005" im Internet: http://www.sensor-test.de

Wichtiger Hinweis für die Medien: In der Pressestelle können Sie honorarfrei themenbezogene Fotos anfordern. Motiv 1: Prof. Dr. Joachim Frühauf bei der Sichtprüfung eines Längennormals. Motiv 2: Einige der hochgenauen Kalibriernormale, die aus einkristallinem Silizium gefertigt wurden, im Vergleich zu einem 10-Cent-Stück. Fotos: Mario Steinebach