Schnelle chemische Identifizierung und Kartierung von Feststoffen, dünnen Schichten und biologischen Proben

Untersuchungen von Spannung/Dehnung und Kristallinität in Halbleitern und 2D-Materialien

Schnelle, voll-konfokale Raman-Bildgebung für die Prozesskontrolle oder für Einrichtungen mit mehreren Benutzern

Spektralbereich: 50 - 4 000 cm-¹ (mit einer optischen Einstellung, kein Gittertausch) 

Spektrale Auflösung: ≤ 1,4 cm-¹ (FWHM, hochauflösende Einstellung) / 6,5 cm-¹ (Standard) 

Laser (intern): bis zu drei gleichzeitig installierte Quellen (typ. 532 nm, 638 nm, 785 nm) mit automatischer Wellenlängenumschaltung 

Konfokale Leistung: 0,5 µm laterale Auflösung; echte Pinhole-Tiefenunterscheidung