Elektronenspektroskopie
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Abbildung 1 veranschaulicht die Prinzipien der direkten Photoemission (blau) und ihrer komplementären Technik, der inversen Photoemission (rot), sowie die entsprechend erfasste elektronische Struktur eines organischen Films. Die Abbildung zeigt auch die grundlegenden Parameter von organischen Filmen, die direkt durch die Photoemissionscharakterisierung untersucht wurden, wie das höchste besetzte Molekülorbital (HOMO), das niedrigste unbesetzte Molekülorbital (LUMO), die Elektronenaffinität (EA), die Ionisierungsenergie (IE) und die Arbeitsfunktion (Φ) in Bezug auf das Fermi-Niveau (EF) und das Vakuum-Niveau (EVAC). |
Abbildung 2 zeigt kombinierte Photoemissions- (unter EF) und inverse Photoemissionsspektren (über EF) eines 15 nm dicken Films aus DiMe-PTCDI, der für die Bestimmung seiner Transportlücke verwendet wurde. |
Abbildung 3 zeigt Kohlenstoff-K-Kanten-NEXAFS-Spektren eines PTCDA-Films in Abhängigkeit vom Photoneneinfallswinkel Θ. Die Merkmale bei 284-290 eV und über 290 eV stellen π*- bzw. σ*-Resonanzen dar. Ihre relativen Intensitäten können zur Bestimmung der molekularen Orientierung verwendet werden. |
Publications |
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S. Kaufmann, H. Schletter, D. Lehmann, F. Haidu, D.R.T. Zahn, M. Hietschold, W.A. Goedel G.C. Schmidt, D. Hoft, M. Bhuie, K. Haase, M. Bellmann, F. Haidu, D. Lehmann, D.R.T. Zahn, A.C. Huber F. Haidu, A. Fechner, G. Salvan, O.D. Gordan, M. Fronk, D. Lehmann, B. Mahns, M. Knupfer, D.R.T. Zahn
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