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Technical Equipment

Bei Fragen zu den Methoden und Geräten können Sie uns gern kontaktieren.

1. Elektronenmikroskopie

HRTEM

Philips CM 20

  • 200 kV Hochauflösungstransmissionselektronenmikroskop
  • Field Emission Gun (FEG)
  • Gatan Imaging Energy Filter (GIF)
 
Ausstattung für die Präparation von HRTEM-Proben:
  • Schleifmaschinen, Sputter-Coater und Verdampfer, Dimpler, Diamantdrahtsäge etc.
  • Ionen-Ätze BAL-TEC RES 010

 

SEM

FEI Nova NanoSEM 200

  • Schottky Field Emission Gun
  • Rückstreuelektronen
  • Analytische Detektoren für:
    • Röntgen-Mikroanalyse
    • Electron Backscattering Diffraction (EBSD)
    • Cathodolumineszenz

 

2. Scanning Probe Microscopy

STM

Tieftemperatur-STM

  • Rastertunnelmikroskopie/spektroskopie bei Tieftemperatur bis zu 4.5 K
  • in situ epitaxiales Wachstum von molekularen Adlayern
  • Elektrospray-System zur Abscheidung von großen und fragilen Molekülen
  • Low energy electron diffraction (LEED) measurements
  • LEED-Messungen (Low Energy Electron Diffraction)

 

STM

Variable Temperatur STM

  • in situ epitaxiales Wachstum von molekularen Adlayern
  • Low temperature scanning tunnelling microscopy with flowing cryostat
  • Tieftemperatur-Rastertunnelmikroskopie mit fließendem Kryostat
  • Sputtertemperzyklen von Metallkristallen

 

STM

RHK 300

  • ambient STM
  • SPM 1000 Electronics Controller

 

STM

Burleigh ambient STM

  • ambient STM
  • electronic controller system from Burleigh Instructional STM

 

  • Atomic Force Microscope (Burleigh)
  • Scanning Electrical Force Microscope (SEFM) (Extension of TopoMetrix AFM)
 
Weiterentwicklungen der Instrumente:
  • Scanning Tunneling Microscope vom Besocke Typ (home made)
  • Ballistic Electron Emission Microscope (BEEM)
  • NC AFM für den gleichzeitigen Betrieb von Cantilever-Arrays

3. Lichtmikroskopie

Optisches Mikroskop

Keyence Digital Microscope VHX-500

  • Durchlicht- und Auflichtbetrieb
  • verschiedene Objektivlinsen
  • Kameraauflösung 1600x1200 px

 

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