Forschungsschwerpunkte

Bauteil- Zuverlässigkeit	Gehäuse Zuverlässigkeit	Überlast- untersuchungen
Halbleitersimulation	Fehleranalyse	Elektronikentwicklung und Teststrategien

Diese und weitere Themengebiete umfassen den Alltag von Forschung und Lehre am Lehrstuhl und bilden das Fundament für zahlreiche Projekte mit renommierten Partnern aus aller Welt.