Charakterisierung von Materialien mit 30-nm Auflösung

Bestimmung von Molekülen mittels Infrarotspektroskopie weit unterhalb des normalen Auflösungslimits

Direkte Visualisierung von verschiedenen Licht-Materie Interaktionen (Plasmon-Polaritonen, Phonon-Polaritonen)

Indirekte Bestimmung der Dotierung durch deren Einfluss auf die dielektrische Funktion

Rasterkraftmikroskop

Breitband Faserlaser (700 – 2200 cm^-1)