Messtechnische Ausstattung der Professur

• Mixed-signal-Oszilloskop Agilent MSO9404A (4 Ghz, 4 Analog- und 16 Digital-Kanäle)
  • Option MSO9000A-001: RS-232/UART Protocol Triggering and Decode
  • Option MSO9000A-007: I2C/SPI Protocol Triggering and Decode
  • Option MSO9000A-008: CAN, LIN, FlexRay Protocol Triggering and Decode
  • Option MSO9000A-016: Xilinx FPGA dynamic probe
  • Differential High Voltage Probe N2891A - 70 Mhz
  • Passive High Voltage Probe 10076B - 4 kV, 250 Mhz
  • 2 Stck. Differential Probe N2752A - 6 GHz
• Logic Analyzer Agilent 16822A
  • 68-channel portable logic analyzer
  • 48-channel pattern generator with up to 300 MVector/s speed and 16 M vector depth
  • 4 GHz (250 ps) timing zoom with 64 K memory
  • 1.0 GHz / 500 MHz (half / full-channel) conventional timing with deep memory
  • PODS:
    • 6x 10476A 1,8-V-Daten-Pod und Leitungssatz
    • 1x 10475A 1,8-V-Takt-Pod und Leitungssatz
    • 6x 10483A 3,3-V-Daten-Pod und Leitungssatz
    • 1x E8140A LVDS-Takt-Pod und Leitungssatz
    • 1x E8141A LVDS-Daten-Pod und Leitungssatz
    • 1x 10461A TTL-Daten-Pod und Leitungssatz
    • 1x 10460A TTL-Takt-Pod und Leitungssatz
  
  
  
• manueller Halbleitertester PM8 (Süss Microtec, später Cascade Microtech, jetzt FormFactor)
• Halbleitertestsystem HP 4062UX
  • Modular DC Source/Monitor Mainframe 4142B mit
    • 2x 41420A High Power Source/Monitor Unit (HPSMU)
    • 2x 41421A Medium Power Source/Monitor Unit (MPSMU)
    • 1x 41424A Voltage Source/Voltage Monitor Unit (VSVM)
    • 1x GROUND Unit (GNDU)
  • 4280 1MHz Capacitance Meter (CM)
  • 8-Slot Precision Measurement Mainframe E5270B mit
    • 2x E5287A High Resolution Source/Monitor Unit (HRSMU)
    • 1x E5288A Atto-sense and Switch Unit (ASU)
    • 2x E5280B High Power Source/Monitor Unit (HPSMU)
    • 1x GROUND Unit (GNDU)
  • 4084 Switching Matrix
• 82357A USB/GPIB Interface
• Waferprober PA200 (Süss Microtec, später Cascade Microtech, jetzt FormFactor)
  • 8" Chuck: TA1G8
  • Probes: PH100, PH150, PH110HF
• 2 halbautomatische Waferprober PA300 (1x Messtemperaturbereich -60 ... +300 °C, Süss Microtec, später Cascade Microtech, jetzt FormFactor)
  
  
  
• Klimakammer T-40/25 (CTS), -40 ... 180 °C
• Power Device Analyzer B1505A (Agilent Technologies)
• Lasercuttingsystem EzLaze 3 (New Wave Research, jetzt ESI)
• Laser Scanning Microscope Axiotron (Zeiss)
• Electrostatic Discharge Simulator ESS-2002 (Noisken)
• Logic Analyzer HP16500B mit Prototype Analyzer HP 16505A, Module:
  • 2 x HP 16555A 68-Channel 110 MHz State / 500 MHz Timing Logic Analyzer Module with 1M of acquisition memory
  • 1 x HP 16522A 20-Channel 200 MHz clock or 40-Channel 100 MHz clock Pattern Generator Module
• Network / Spectrum / Impedance Analyzer HP4395A (10 Hz ... 500 MHz)
  • Option 001 (DC voltage/current source)
  • Option 010 + 43961A RF Impedance Test Kit
  • 87512A Transmission/Reflection Test Set
• N5242A PNA-X Network Analyzer 10 MHz ... 26,5 GHz (Agilent Technologies)
• Wavetek 50MHz Synthesized Arbitrary Waveform Generator Model 296
• Tektronix 500MHz Oscilloscope TDS744A
• Precision LCR Meter HP4284A
• KSI-Ultraschallmikroskop bis 400 MHz (ca. 2 µm Auflösung)
• Lifetime Scanner WT-85 (Semilab)
• Dunkelkennlinienmessplatz für Solarzellen
• Hellkennlinienmessplatz für Solarzellen (Eigenbau)
• komplexer Spektralmessplatz für Solarzellen
• Messplatz für kapazitive Drucksensoren
• TLP50-Messplatz (Eigenbau)
• Standardmesstechnik zur Schaltungsentwicklung
• FPGA-Entwicklungssystem XILINX Spartan-3AN (Basis XC3S700AN)
• Microcontrollerentwicklungssystem