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Professur Schaltkreis- und Systementwurf
Test of Digital and Mixed-Signal Circuits

Test of Digital and Mixed-Signal Circuits

Fehlerhafte Systeme sind ein Ärgernis für alle Nutzer. Moderne Testverfahren helfen den Herstellern, möglichst viele Fehler bereits vor der Auslieferung an den Kunden zu erkennen. So werden teure Rückrufaktionen vermieden und das Qualitätsempfinden steigt. 

Ziel der Lehrveranstaltung ist das Sensibilisieren der Teilnehmer für die Testproblematik und das Kennenlernen von Methoden des testfreundlichen Entwurfs. Diese umfassen sowohl Maßnahmen direkt in der Hardware als auch Algorithmen für entsprechende externe Testgeräte.

Die Lehrveranstaltung besteht aus Vorlesung, Übung und Seminar.

Die Lehrveranstaltung wird in englischer Sprache gehalten.

Im Wintersemester 2024/25 wird der Kurs als wöchentliche Onlineveranstaltung ab 17.10.2024 in Zoom Zoomlink angeboten. Bitte melden Sie sich im OPAL an. Präsenzseminare (zu Semesterbeginn auch online) ergänzen Vorlesung und Übung.

Kursmaterial

Ist in OPAL verfügbar: Einschreibung

Lehrinhalte

  • Bedeutung des Tests, Teststrategien
  • Fehlermodelle
  • Testmustererzeugung
  • Testfreundlicher Entwurf
  • Boundary Scan
  • Industrieller Test

Prüfung

Informationen zur Prüfung werden in der Vorlesung bekannt gegeben.

Termine

Nummer Name Zeit Raum Details
243031-760
[Vorlesung] [digital]
Subscription in OPAL necessary
Donnerstag (14-täglich, ungerade KW)
15:30-17:00
k.A.
243031-762
[Übung] [digital]
Donnerstag (14-täglich, gerade KW)
15:30-17:00
k.A.
243031-763
[Seminar] []
Freitag (14-täglich, ungerade KW)
07:30-09:00
2/N002
(neu: C10.002)
243031-764
[Seminar] []
Montag (14-täglich, ungerade KW)
15:30-17:00
2/W451
(neu: C25.451)
243031-765
[Seminar] []
Freitag (14-täglich, gerade KW)
07:30-09:00
2/W451
(neu: C25.451)
243031-766
[Seminar] []
Donnerstag (Wöchentlich)
11:30-13:00
2/W451
(neu: C25.451)