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LOCATION:Reichenhainer Str. 90\, Chemnitz (Zentr. Hörsaal- und Seminargebäude)
SUMMARY:Kolloquium des Zentrums für Mikrotechnologien: Röntgenfluoreszenzanalyse von dünnen Schichten (Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik\, Zentrum für Mikrotechnologien)
DESCRIPTION:Inhalt des Vortrags:\n- Prinzip der Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA)\n- Komponenten eines Analysesystems \n- Typische Analyseaufgaben und -möglichkeiten \n- Diskussion\nDipl.-Ing. Joachim Piltz\, amtec Analysenmesstechnik GmbH Leipzig (www.amtec-spectro.de)\nDr. Stefan Schulz (Tel.: 0371/531-3651) oder Thomas Wächtler (Tel.: 0371/531-3673\, E-Mail: thomas.waechtler@zfm.tu-chemnitz.de)
ORGANIZER:MAILTO:thomas.waechtler@zfm.tu-chemnitz.de
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