BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:TU Chemnitz
METHOD:PUBLISH
X-WR-CALNAME:Veranstaltungen der TU Chemnitz
X-WR-TIMEZONE:Europe/Berlin
BEGIN:VEVENT
CLASS:PUBLIC
DTSTART;TZID="Europe/Berlin":20020507T153000
DTEND;TZID="Europe/Berlin":20020507T170000
LOCATION:Reichenhainer Str. 70\, Chemnitz (Zentr. Hörsaal- und Seminargebäude)
SUMMARY:Instituts-Kolloquium (Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik\, Elektrotechnisches Institut)
DESCRIPTION:Der Vortrag behandelt  Ausfallmechanismen\, Bauteilauswahl an Hand von Herstellerdaten\, Rth- und Zth-Bestimmung bei Leistungsmodulen mit und ohne Kupfergrundplatte\, sowie Lebensdauerabschätzung an Hand des Sperrschichttemperaturhubes.\n\nPeter Nagengast\, SIEMENS A&D Erlangen
ORGANIZER:MAILTO:muens@hrz.tu-chemnitz.de
UID:2318@www.tu-chemnitz.de
CREATED:20020423T093600Z
DTSTAMP:20210802T202450Z
END:VEVENT
END:VCALENDAR