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LOCATION:Uni-Teil 3: Reichenhainer Str. 70\, Chemnitz (Zentr. Hörsaal- und Seminargebäude)
SUMMARY:Kolloquium des SFB 379 "Mikromechanische Sensor- und Aktorarrays" ELEKTROMIGRATION IN METALLISIERUNGEN HOCHINTEGRIERTER SCHALTUNGEN (Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik\, Zentrum für Mikrotechnologien)
DESCRIPTION:Die Elektromigration führt zu einem Massentransport bei hohen Stromdichten. Es werden die Ursachen und Wirkungen beschrieben sowie Videos vom Effekt gezeigt.\nDr. Wolfgang Hasse; Universität Hannover\, Institut für Halbleiterbauelemente und Werkstoffe\nDr. Seckel\, 531 3261
ORGANIZER:MAILTO:seckel@hrz.tu-chemnitz.de
UID:1763@www.tu-chemnitz.de
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