Viele Teilnehmer suchten in den Tagungspausen das Gespräch mit den Ausstellern auf der Meßgerätepräsentation von 16 Firmen bzw. auf der Posterpräsentation. Da der Besuch der Gerätepräsentation nicht unbedingt eine Teilnahme an der Tagung voraussetzte, nutzten auch viele Vertreter kleinerer Firmen aus der Region die Möglichkeit eines Informationsbesuches.
(MSt) Es ist die Kunst des Ingenieurs, für die Funktion und Fertigung geeignete Kenngrößen zu definieren und zu nutzen. Doch dafür ist dringend eine einheitliche und umfassende Normung notwendig, forderte Prof. Dr. Dr. Harry Trumpold Ende Januar auf dem IX. Internationalen Oberflächenkolloquium in Chemnitz: "Die Angaben in den technischen Dokumenten müssen eindeutig, vollständig und unabhängig sein. Defizite in existierenden Normen erschweren noch immer Tolerierung und Messung."
Die 46 Vorträge des diesjährigen Kolloquiums umrissen viele Problemkreise. So stand neben der Normung von Kenngrößen, Kennfunktionen und Meßbedingungen auch die Tolerierung von Form- und Lageabweichungen sowie der Oberflächenrauheit unter Aspekten der Fertigung, Meßtechnik und Funktion auf dem Tagungsprogramm.
Das Spektrum der Vorträge reichte von Methoden der Fraktalanalyse über Erfahrungen mit der MOTIF-Methode bis hin zur mathematisch exakten Bestfiteinpassung von Freiformflächen.
In den Vorträgen zur Prüfung der Mikrogeometrie technischer Oberflächen wurde die Tendenz zu einer berührungslosen Messung der Oberflächenrauheit deutlich. Die vorgestellten optischen Meßverfahren bauen in den meisten Fällen auf einer Korrelation optischer Kenngrößen mit den Rauheitskenngrößen Ra und Rq auf. Viele Diskussionsbeiträge zeigten jedoch, daß von einer Beschreibung der Mikrogeometrie technischer Oberflächen nur mit Ra oder Rq aufgrund der geringen Aussagekraft dieser Parameter abzuraten ist.
Auch dem Einfluß verschiedener Fertigungsverfahren auf die Eigenschaften technischer Oberflächen und Oberflächenrandschichten widmeten sich einige Vorträge.
Außerdem wurden Meßverfahren zur Bestimmung der Haftfähigkeit von Beschichtungen diskutiert. Über Lösungen der Koordinatenmeßtechnik zur Erfassung und Auswertung von Form- und Lageabweichungen sowie der Oberflächenrauheit erhielten die Teilnehmer Informationen aus erster Hand. Mit großem Interesse wurde von den Besuchern die Posterpräsentation aufgenommen. Referenten stellten hier nicht nur ihre
Forschungsergebnisse vor, sondern standen vielen Interessenten während der Tagungspausen Rede und Antwort.
Der Tagungsband, in dem die Texte aller Vorträge vollständig enthalten sind, kann über das Institut für Fertigungsmeßtechnik und Qualitätssicherung, Tel. 0371/531-2437, Fax 0371/531- 2201, zum Preis von 95 Mark angefordert werden. Im Preis mit enthalten ist ein Posterband, der alle 34 auf dem Kolloquium ausgestellten Poster ausführlich darstellt.
Erfreut zeigte sich nicht nur Tagungsleiter Prof. Dr. Michael Dietzsch über die 232 Teilnehmer aus 17 Ländern. Das ist gegenüber dem VIII. Oberflächenkolloquium fast eine Verdopplung der Teilnehmerzahl. 62 Prozent der Gäste kamen von Universitäten, Hochschulen und wissenschaftlichen Einrichtungen, 38 Prozent waren Vertreter von Industriebetrieben, vorwiegend von kleinen und mittelständischen Unternehmen.
Das X. Internationale Oberflächenkolloquium soll vom 31. Januar bis zum 2. Februar 2000 durchgeführt werden.