Praktika an der Professur "Analytik an Festkörperoberflächen"
Wir sind umgezogen. Deshalb tragen unsere Räume natürlich auch geänderte Zimmernummern. Wenn in den folgenden PDF-Dokumenten also alte Raumnummern genannt werden, so ersetzen Sie diese bitte selbständig wie folgt:
aus K12 wird im neuen Physikgebäude P K09, das Hochauflösungslabor und Standort der Geräte
aus 403 wird im neuen Physikgebäude P 010, das Präparationslabor und Einsatzort der meisten Erfahrungsträger
aus 454 wird im neuen Physikgebäude P 179, das Arbeitszimmer von Prof. Hietschold
aus 455 wird im neuen Physikgebäude P 180, das Arbeitszimmer von Dr. Schulze
1)
Fortgeschrittenenpraktikum (5. und 6. Semester)
- V
3
-
Grundlagen des Raster-Tunnel-Mikroskops (RTM / STM)
Ansprechpartner: Dr. Pavel Shukrynau
- V 4 - Elektronenmikroskop (Literaurmappe)
Ansprechpartner: Dr. Steffen Schulze
2) im Laborpraktikum I (Umlaufpraktikum, 7. Semester)
- Elektronen-Energieverlustspektroskopie (EELS) (kurz) (Literaurmappe)
- Ansprechpartner: Dr. Steffen Schulze
3) im Laborpraktikum II
(Spezialisierung, 8. Semester)
- Charakterisierung der Textur von Silicid-Schichten auf Silicium
- Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie von Siliciden
- Ultrastruktur molekularer
Dünnschichten mittels hochauflösender
Transmissions-Elektronen-Mikroskopie (TEM) und Elektronenbeugung
Themenvorschlag als .pdf
Ansprechpartner: Dr. S. Schulze - Nanotomographie mittels EBSD im
Rasterelektronenmikroskop
Themenvorschlag als .pdf
Dr. S. Schulze
4) Semesterferien-Praktika
Im Rahmen der von der IAESTE organisierten Ferienpraktika für ausländische Studenten bietet die Professur "Analytik an Festkörperoberflächen" interessierten Studenten individuelle, in der Regel zwölfwöchige praktische Arbeiten im Zusammenhang mit aktuellen Forschungsprojekten an. Diese Praktika wenden sich an Studenten der Physik, Elektrotechnik und der Materialwissenschaften. In den vergangenen Jahren nahmen daran Studenten aus Frankreich, Iran, Rußland, Ukraine, Polen, Ungarn, Ghana, Türkei, Libanon und Kirgisien teil.5) Praktika im Elektronenmikroskopischen Labor
- Nachweis der relativistischen Massenänderung von schnellen Elektronen durch Elektronenbeugung (kurz) (ausführlich)
Aufsätze im Zusammenhang mit der Elektronenmikroskopie und Festkörperanalytik, irgendwann aus verschiedenen Anlässen verfaßt, seien dem Lernenden hier als erster Einstieg in die Problematik zum Herunterladen angeboten (alles in PDF):
Elektronenmikroskopische Strukturanalysemethoden
Literatur: Übersicht über die in der Bibliothek verfügbaren Elektronenmikroskopie-Bücher
Advances in imaging and electron physics, Elektronenmikroskopie AufsatzsammlungSteffen Schulze
Alexander, Helmut Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie
Institute of Physics <London> Analytical electron microscopy
Bigelow, Wilbur C. Vacuum methods in electron microscopy
Boon, Gerben Simultaneous determination of specimen co
Eberhart, Jean P. Structural and chemical analysis of mater
Advanced Study Institute on El Electron crystallography
Amelinckx, Severin Electron microscopy
Reimer, Ludwig Energy filtering transmission electron mi
Flegler, Stanley L. Elektronenmikroskopie
Goodhew, Peter J. Electron microscopy and analysis
Goodhew, Peter J. Elektronenmikroskopie - Grundlagen und An
Horiuchi, S. Fundamentals of high-resolution transmiss
Wetzig, Klaus In situ scanning electron microscopy in m
Kästner, Gerhard Many beam electron diffraction related to
Katzenberg, Frank Mikrostrukturelle Charakterisierung metal
Schimmel, Vogell Methodensammlung der Elektronenmikroskopi
Schmidt, Peter Fritz Praxis der Rasterelektronenmikroskopie un
Reimer, L. SEM/TEM Hypertext Grundlagen der Raster-
Reimer, Ludwig Elektronenmikroskopische Untersuchungs- u
Reimer, Ludwig Transmission electron microscopy
Rochow, Theodore G. Introduction to microscopy by means of li
Watt, Ian M. The principles and practice of electron
Williams, David Bernard Transmission electron microscopy