Professur Analytik an Festkörperoberflächen

Elektronenmikroskopie mit Energiefilterung und Elektronen-Energieverlustspektroskopie

Unser früheres Elektronen Energieverlustspektrometer (PEELS GATAN 666) am 200 KV Transmissionselektronenenmikroskop CM 20 FEG 200 keV mit Feldemissionskathode wurde ersetzt durch ein abbildendes Energiefilter von Gatan (GIF), dessen Leistungsfähigkeit viel größer ist.

Damit erhielten wir Ergebnisse zu
 
Silberpartikeln in Kupfer-Phthalocyanin Silber auf Styroporkugeln SiN-Schichtsystem SiGe-Multilayers Spektrenrekonstruktion aus ESI-Serien

sowie gelegentlich auch Eisblumen auf der CCD-Kamera.


Leistungsangebot zur analytischen Durchstrahlungselektronenmikroskopie:

Präparation und Untersuchung von Querschnitten durch Festkörper und Schichtsysteme mittels analytischer Durchstrahlungselektronenmikroskopie



Rutilpartikel mit Vanadiumoxidbeschichtung (erhalten mit dem alten PEELS)

Entlang einer Linie über das Rutilpartikel aufgenommene Elektronenenergieverlustspektren ermöglichen den Nachweis einer nanometerdünnen Vanadiumoxidbedeckung seiner Oberfläche.



 
Anfragen können an folgende Kontaktadresse gesendet werden:

schulze@physik.tu-chemnitz.de (Steffen Schulze)