Vortrag
Es wird ein zweistufiges Schema zur Fehlerkontrolle vorgestellt, das auf beliebige Teilchensysteme angewandt werden kann. In der ersten Stufe wird eine homogene Verteilung auf jedem Niveau des FMM-Baumes angenommen. Die zweite Stufe berücksichtigt die Positionen der Teilchen bezüglich der Entwicklungspunkte der Multipolmomente. Die zweite Stufe ist somit eine Korrektur der ersten, die insbesondere für stark inhomogene Teilchenverteilungen von Bedeutung ist. In Abhängigkeit eines geforderten Fehlers bezüglich der Energie, des Potentials oder des Gradienten bestimmt die FMM alle Parameter der Methode, so dass der geforderte Fehler nicht überschritten wird. Die Erhöhung der Laufzeit der FMM durch die zweistufige Fehlerkontrolle ist vernachlässigbar.