Professur Analytik an Festkörperoberflächen

• Elektronenmikroskopie (Transmissions- und Raster-Elektronen-Mikroskopie, Elektronen-Energieverlustspektroskopie, Energiedispersive Röntgenanalytik (EDX), Kathodolumineszenz)
• Raster-Sonden-Mikroskopie und -Spektroskopie
  (Raster-Tunnel-Mikroskopie und -Spektroskopie, Raster-Kraft- und Elektrische Raster-Kraft-Mikroskopie und -Spektroskopie, Optische Raster-Nahfeld-Mikroskopie und -Spektroskopie, Elektrochemische Submikrometerstrukturierung)
• Oberflächenphysik, insbesondere organischer Festkörper und Adsorbate
• Polytypen in ternären und quarternären Halbleitersystemen
• Struktur kohlenstoffbasierter Hartstoffschichten

• Kraftsensoren-Array für die dynamische Multi-Sonden Raster-Kraft-Mikroskopie, Teilprojekt B6 im SFB 379 (Mikromechanische Sensor- und Aktorarrays) (01/2001 - 12/2003, DFG)
• STM- und LEED-Untersuchungen organischer Adsorbatschichten
• Lokale Sondenspektroskopie an agglomerierenden Phthalocyaninmolekülen, Graduiertenkolleg "Akkumulation von Einzelmolekülen zu Nanostrukturen" (09/2002 - 08/2005, DGF)
• Rastersondenmikroskopie und -spektroskopie an mit organischen Schichten bedeckten Metallclustern, Marie-Curie Training Site Carbon Containing Thin Films (09/2001 - 08/2003, EU)
• In-Situ Raster-Tunnel-Mikroskopie photoelektrochemischer Prozesse, Bilaterales Kolloquium TU Chemnitz - National Center for Natural Science and Technology Hanoi (09/2002, DFG)

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Hietschold, M.: Raster-Sonden-Mikroskopie und -Spektroskopie für Untersuchungen auf mesoskopischer Skala, Gerhard-Mercator-Universität Duisburg, Kolloquium des Fachbereichs Elektrotechnik, 14.02.2002

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Lackinger, M. / Griessl, S. / Heckl, W.M. / Hietschold, M.: STM, STS und LEED an Coronen auf Graphit (0001) und Ag (111), Regensburg, Frühjahrstagung des AK Festkörperphysik der DPG, 11.-15.03.2002

Müller, A.-D. / Müller, F. / Mehner, J. / Hietschold, M.: Aufbau und Ansteuerung eines kapazitiven Cantilever-Arrays, Regensburg, Frühjahrstagung des AK Festkörperphysik der DPG, 11.-15.03.2002

Müller, A.-D.:Scanning Tunneling Microscopy in Electrochemical Environment, Hanoi, Vietnam, Bilateral Colloquium "In-Situ STM of Photoelectrochemical Processes", 23.-29.09.2002

Müller, A.-D. / Müller, F. / Mehner, J. / Wibbeler, J. / Geßner, Th. / Hietschold, M.: Double-cantilever device for Atomic-Force Microscopy in dynamic non-contact mode, Rimini, Italien, 13th European Symposium Reliability of Electronic Devices, Failure Physics and Analysis ESREF, 07.-11.10.2002

Müller, F.: Elektrische Rasterkraft-Spektroskopie und ihre Anwendung in einem Dopple-Spitzen AFM, Bundesanstalt für Materialprüfung Berlin, 3. Workshop Rastersondenmikroskopie in der Werkstoffwissenschaft, 28.02.-01.03.2002

Müller, F. / Müller, A.-D. / Middeke, J. / Angermann, H. / Hietschold, M.: Elektrische Rasterkraftmikroskopie auf Halbleiteroberflächen, Regensburg, Frühjahrstagung des AK Festkörperphysik der DPG, 11.-15.03.2002

Müller, F.: Grundlagen und Anwendungen der elektrischen Rater-Kraft-Mikroskopie, TU Dresden, Arbeitsgruppenseminar Tieftemperaturphysik, 27.06.2002

Müller, F.: Technical Aspects of Scanning Tunneling Microscopy, Hanoi, Vietnam, Bilateral Colloquium "In-Situ STM of Photoelectrochemical Processes", 23.-29.09.2002

Schulze, S.: Electron Microscopy Techniques, Hanoi, Vietnam, Bilateral Colloquium "In-Situ STM of Photoelectrochemical Processes", 23.-29.09.2002

Schulze, S.: Sehen, was viel zu klein ist, TU Chemnitz, Vortragsreihe Physik - wie Forschung Spaß macht, 22.11.2002