Professur für Leistungselektronik und elektromagnetische Verträglichkeit

Publikationen


Hier finden Sie an der Universitätsbibliographie registrierte Publikationen der Professur ab dem Jahr 2006 nach Jahren sortiert. Für Stichwortsuche nutzen sie bitte die Suchmaske der Universitätsbibliographie der TU-Chemnitz.

Publikationen der Jahre 2006 bis 2013
Nr. Titel Autoren Jahr
1 A Simplified Algorithm for Predicting Power Cycling Lifetime in Direct Drive Wind Power Systems D'Arco, Salvatore et al. 2012
2 Active Calibration of Samples According Vce(T) Method in Advance of Power Cycling Tests Bohlländer, Marco et al. 2012
3 Challenges Regarding Parallel Connection of SiC JFETs Peftitsis, Dimosthenis et al. 2012
4 Characterisation and evaluation of 1700V SiC-MOSFET modules for use in an active power filter in aviation Liebig, Sebastian et al. 2012
5 Characterisation and evaluation of 1700V SiC-MOSFET modules for use in an active power filter in aviation Liebig, Sebastian et al. 2012
6 Das Netzproblem und die Leistungselektronik Lutz, Josef 2012
7 Destruction Behavior of Power Diodes beyond the SOA Limit Baburske, Roman et al. 2012
8 Diodes using the SPEED concepts: Trade-off between Switching Ruggedness and Surge Current Ruggedness Pfaffenlehner, Manfred et al. 2012
9 Dynamic avalanche in bipolar power devices Lutz, Josef et al. 2012
10 Für Solar Lutz, Josef 2012
11 Halbleiter-Leistungsbauelemente - Physik, Eigenschaften, Zuverlässigkeit Lutz, Josef 2012
12 Influence of thermal cross-couplings on power cycling lifetime of IGBT power modules Poller, Tilo et al. 2012
13 Keine halben Sachen Lutz, Josef 2012
14 Mechanical analysis of press-pack IGBTs Poller, Tilo et al. 2012
15 Perspektiven fortschrittlicher und kritischer Wissenschaft und Kultur : Dokumentation 7. Offene Akademie 2011 Klug, Christoph et al. 2012
16 Power Cycling Capability of New Technologies in Power Modules for Hybrid Electric Vehicles Herold, Christian et al. 2012
17 Short-Circuit Behaviour of High-Voltage IGBTs in Circuits with di/dt Snubbers Basler, Thomas et al. 2012
18 Short-Circuit Ruggedness of High-Voltage IGBTs Lutz, Josef et al. 2012
19 Stoßstromfeste Halbleiterdiode mit weichem Abschaltverhalten und Verfahren zur Herstellung einer Halbleiterdiode Baburske, Roman et al. 2012
20 Surge Current Capability of IGBTs Basler, Thomas et al. 2012
21 Technologie und pysikalische Eigenschaften strahlungsinduzierter Zentren in Silizium Klug, Jan N. 2012
22 The Effect of Selenium Deep Energy Levels in Si on the Turn-Off Behaviour of Diodes Pertermann, Eric et al. 2012
23 Verfahren zur Herstellung einer vergrabenen n-dotierten Halbleiterzone in einem Halbleiterkörper und Halbleiterbauelement Schulze, Hans-Joachim et al. 2012
24 Wie kann die Versorgung mit elektrischer Energie zu 100% aus regenerativen Quellen erfolgen? Lutz, Josef 2012
25 Challenges regarding parallel-connection of SiC JFETs Peftitsis, Dimosthenis et al. 2011
26 Concept and prototyping of an active mains filter for aerospace application Liebig, Sebastian et al. 2011
27 Design and evaluation of state of the art rectifiers dedicated for a 46 kW E-ECS aerospace application with respect to power density and reliability Liebig, Sebastian et al. 2011
28 Dynamik des Ladungsträgerplasmas während des Ausschaltens bipolarer Leistungsdioden Baburske, Roman 2011
29 Extraction of Power Cycles in Offshore Wind Power Applications Bohlländer, Marco et al. 2011
30 Filament-Induced Thermomigration of an Aluminium Drop at the Cathode-Side of High-Voltage Power Diodes Schulze, Hans-Joachim et al. 2011
31 Freigesetzte Radioaktivität aus der Reaktorkatastrophe von Fukushima im Pazifik und in der Nahrungskette Moldzio, Stephan et al. 2011
32 Freilaufdioden aus Silizium - Schaltverhalten, Robustheit Lutz, Josef et al. 2011
33 Hybrid Drive as a variation of a gear box Schön, Wolfgang et al. 2011
34 Liquid Cooling methods for power electronics in an automotive environment Baumann, Mathias et al. 2011
35 n-type doping of silicon by proton implantation Klug, Jan et al. 2011
36 On the Origin of Thermal Runaway in a Trench Power MOSFET Dibra, Donald et al. 2011
37 Optimization of Diodes Using the SPEED Concept and CIBH Pfaffenlehner, Manfred et al. 2011
38 Reliability Investigations of Improved Power Modules - Results from EfA-Project Hensler, Alexander et al. 2011
39 SEMICONDUCTOR DIODE RESISTIVE TO SURGE CURRENT WITH SOFT RECOVERY BEHAVIOR, AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME Baburske, Roman et al. 2011
40 Semiconductor Power Devices : Physics, Characteristics, Reliability Lutz, Josef et al. 2011
41 The Influence of Asymmetries on the Parallel Connection of IGBT Chips under Short-Circuit Condition Basler, Thomas et al. 2011
42 Thermal Impedance Monitoring during Power Cycling Tests Hensler, Alexander et al. 2011
43 Thermal Impedance Spectroscopy of Power Modules Hensler, Alexander et al. 2011
44 Thermal Impedance Spectroscopy of Power Modules During Power Cycling Hensler, Alexander et al. 2011
45 Verfahren zur Messung der Junction-Temperatur bei Leistungshalbleitern in einem Stromrichter Lutz, Josef et al. 2011
46 A new diode structure with inverse injection dependency of emitter efficiency (IDEE) Baburske, Roman et al. 2010
47 Analysis of the destruction mechanism during reverse recovery of power diodes Baburske, Roman et al. 2010
48 Comparison of the Mechanical Load in Solder Joints Using SiC and Si Chips Poller, Tilo et al. 2010
49 DT and Over Temperature Protection of Smart Power MOSFETs using Intergrated Seebeck Difference Temperature Sensors Donald, Dibra et al. 2010
50 Dynamic Avalanche in Bipolar Power Devices Lutz, Josef et al. 2010
51 Effects of Negative Differential Resistance in High Power Devices and some Relations to DMOS Structures Baburske, Roman et al. 2010
52 Elektrofahrzeuge Gesamttext : Bedeutung, Stand der Technik, Handlungsbedarf Böcker, Joachim et al. 2010
53 First Power Cycling Results of Improved Packaging Technologies for Hybrid Electrical Vehicle Applications Hensler, Alexander et al. 2010
54 Halbleiter-Leistungsbauelemente für die Traktionstechnik - aktuelle Entwicklungen Lutz, Josef et al. 2010
55 Halbleiterleistungsbauelemente – Wärmemanagement und Zuverlässigkeit Feller, Marco et al. 2010
56 Höchste Anforderungen an die Zuverlässigkeit Lutz, Josef 2010
57 Hybridfahrzeuge: Leistungsdichte weiter erhöhen Lutz, Josef 2010
58 IGBT Self-Turn-Off under Short-Circuit Condition Basler, Thomas et al. 2010
59 Insight into thermal management concepts for power electronics modules in automotive application Baumann, Mathias et al. 2010
60 Method and Test Assembly for Power Cycling Tests at Inverter Conditions Hensler, Alexander et al. 2010
61 Perspektiven fortschrittlicher und kritischer Wissenschaft und Kultur : Tagungsband 6. Offene Akademie 2010 Klug, Christoph et al. 2010
62 Power Cycling Tests at High Temperatures with IGBT Power Modules for Hybrid Electrical Vehicle Applications Hensler, Alexander et al. 2010
63 Power devices and modern micro- and nanotechnologies Stecher, Matthias et al. 2010
64 The Trade-Off between Surge-Current Capability and Reverse-Recovery Behaviour of High-Voltage Power Diodes Baburske, Roman et al. 2010
65 Thermal-mechanical analysis of solder layers in power modules under superimposed cycling conditions Poller, Tilo et al. 2010
66 VDE Studie Elektrofahrzeuge : Bedeutung, Stand der Technik, Handlungsbedarf Böcker, Joachim et al. 2010
67 100% erneuerbare Energien? – Eine Frage des Willens, nicht der Technik Lutz, Josef 2009
68 DC/DC-Wandler zur Einbindung von Doppelschichtkondensatoren in das Fahrzeugenergiebordnetz Polenov, Dieter (Dipl.-Ing.) 2009
69 Halbleiterbauelement mit temporärem Feldstoppbereich und Verfahren zu dessen Herstellung Lutz, Josef et al. 2009
70 IGBT-Modules: Design for reliability Lutz, Josef 2009
71 On the formation of stationary destructive cathode-sidefilaments in p+-n−-n+ diodes Baburske, Roman et al. 2009
72 Passive turn-on process of IGBTs in Matrix converter applications Baburske, Roman et al. 2009
73 Power Electronics for Power Cycling Capability at High Temperatures and High Temperature Swings Hensler, Alexander et al. 2009
74 Power Electronics in the Powertrain - An Optimum of Integration Vogel, Frank et al. 2009
75 Seebeck difference - temperature sensors integrated into smart power technologies Dibra, Donald et al. 2009
76 Short circuit III in high power IGBTs Lutz, Josef et al. 2009
77 Silizium- und SiC-Leistungsdioden unter besonderer Berücksichtigung von elektrisch-thermischen Kopplungseffekten und nichtlinearer Dynamik Felsl, Hans Peter (Diplom-Physiker) 2009
78 The influence of turn-off dead time on the reverse-recovery behaviour of synchronous rectifiers in automotive DC/DC-converters Polenov, Dieter et al. 2009
79 The nn+-Junction as the Key to Improved Ruggedness and Soft Recovery of Power Diodes Lutz, Josef et al. 2009
80 Thermal-Mechanical Behaviour of Solder Layers in Power Modules Poller, Tilo et al. 2009
81 Analysis of a p+p-n-n+ diode structure Chen, Min et al. 2008
82 Charge-carrier Plasma Dynamics during the Reverse-recovery Period in p+-n--n+ diodes Baburske, Roman et al. 2008
83 Effects of Metallisation and Bondfeets in 3.3kV Free-Wheeling Diodes at Surge Current Conditions Heinze, Birk et al. 2008
84 Halbleiterbauelement mit verbesserter Robustheit Lutz, Josef et al. 2008
85 Investigation of Surge Current Capability of SiC MPS Diodes Neumeister, Matthias et al. 2008
86 Model for Power Cycling lifetime of IGBT Modules – various factors influencing lifetime Bayerer, Reinhold et al. 2008
87 Power cycling induced failure mechanisms in the viewpoint of rough temperature environment Lutz, Josef 2008
88 Power Cycling of IGBT- Modules with superimposed thermal cycles Feller, Marco et al. 2008
89 Ruggedness Analysis of 3.3kV High Voltage Diodes considering various Buffer Structures and Edge Terminations Heinze, Birk et al. 2008
90 Scaling of Temperature Sensors for Smart Power MOSFETs Dibra, Donald et al. 2008
91 Surge Current Ruggedness of Silicon Carbide Schottky- and Merged-PiN-Schottky Diodes Heinze, Birk et al. 2008
92 The CIBH Diode : Great Improvement for Ruggedness and Softness of High Voltage Diodes Felsl, Hans Peter et al. 2008
93 The Influence of Field- and Diffusion-Current Components on the Charge-carrier Plasma Dynamics during Turn-off process of p+n-n+ Diodes Baburske, Roman et al. 2008
94 A diode structure with anode side buried p doped layers for damping of dynamic avalanche Chen, Min et al. 2007
95 A method to investigate the cycling lifetime of supercaps Keutel, Thomas et al. 2007
96 a-C:H/Si HETEROSTRUCTURE ELECTRICAL PROPERTIES DEGARDATION IN WATER MEDIUM UNDER ELECTRIC FIELD EFFECT Sinelnikov, Boris et al. 2007
97 Cascaded Boost-Buck DC/DC-Converter for Dual-Voltage Automotive Power-Nets with Overlapping Voltage Ranges Polenov, Dieter et al. 2007
98 Entwicklungstrends bei Halbleiter-Bauelementen für die Traktionstechnik Lutz, Josef 2007
99 Influence of parasitic inductances on transient current sharing in parallel connected synchronous rectifiers and Schottky-barrier diodes Polenov, Dieter et al. 2007
100 Influence of the base contact on the electrical characteristics of SiC BJTs Lee, Hyung-Seok et al. 2007
101 Leistungshalbleiterbauelement für Sperrspannungen über 2000V Lutz, Josef et al. 2007
102 Objections against the current limits for microwave radiation Lutz, Josef et al. 2007
103 Power Cycling Induced Failure Mechanisms in Solder Layers Herrmann, Tobias et al. 2007
104 Power Cycling of IGBT-Modules with different current waveforms Feller, Marco et al. 2007
105 Ruggedness of high voltage diodes under very hard Commutation Conditons Heinze, Birk et al. 2007
106 Synthese und Erforschung der physikalischen Eigenschaften eines a-C:H Filmes, abgeschieden aus dem Radiofrequenzplasma Sinelnikow, B.M et al. 2007
107 Thyristors and IGBTs with integrated self-protection functions Niedernostheide, Franz-Josef et al. 2007
108 Verfahren zur Passivierung einer schnellen Leistungsdiode durch eine Passivierungsschicht aus amorphem Kohlenstoff Lutz, Josef et al. 2007
109 Zur Zuverlässigkeit von Leistungsbauelementen bei 200°C Sperrschichttemperatur Veit, Björn et al. 2007
110 Desaturated Switching of Trench - Fieldstop IGBTs Bohlländer, Marco et al. 2006
111 Energiespeicher im Niederspannungsnetz zur Integration dezentraler, fluktuierender Energiequellen Bodach, Mirko (Dipl.-Ing.) 2006
112 Halbleiter-Leistungsbauelemente : Physik, Eigenschaften, Zuverlässigkeit Lutz, Josef 2006
113 Lastwechselfestigkeit von modernen Aufbau- und Verbindungstechniken bei hohen Temperaturhüben Amro, Raed (Dipl.-Ing.) 2006
114 Verfahren zur Herstellung einer vergrabenen n-dotierten Halbleiterzone in einem Halbleiterkörper und Halbleiterbauelement Siemieniec, Ralf et al. 2006
Abgefragt in der Universitätsbibliographie der TU-Chemnitz.
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Publikationen zu ausgewählten Forschungsthemen vor 2006:

 
  1. Schnelle Dioden
  2. Rekombinationszentren und tiefe Zentren in Silizium
  3. Dynamischer Avalanche
  4. Zuverlässigkeit von Leistungsmodulen
  5. Regenerative Energien

 

1. Schnelle Dioden:

 

Moderne Leistungsschalter benötigen Freilaufdioden im Kommutierungskreis. Die Dioden sind oft der begrenzende Faktor für die Ausnutzung des schaltenden Bauelements. Soft-Recovery-Verhalten ist in den meisten Anwendungen unverzichtbar.

 

[5] Konferenzbeitrag "Transit Time Oscillations as a Source of EMC Problems in Bipolar Power Devices" von R.Siemieniec, M. Netzel, P.Mourick and J.Lutz, EPE 2003, Toulouse/France, 2003

[4] Konferenzbeitrag "PT-IGBT and Freewheeling Diode for 3.3kV using Lifetime Control Techniques and Low-Efficiency Emitters" von M.Netzel, R.Lerner, R.Siemieniec, J.Lutz, MIEL 2002, Niš/Yugoslavia, 2002

[3] "3.3kV IGBT and Diode Chipset using Lifetime Control Techniques and Low-Efficiency Emitters" von M.Netzel, R.Siemieniec, R.Lerner, J.Lutz, Facta Universitatis (Niš), Ser.: Elec. Energ., Vol.15, No.1, pp.51-59, April 2002

[2] Konferenzbeitrag "Aktuelle Entwicklungen bei Silizium-Leistungsdioden" von Josef Lutz, Anton Mauder, Martin Domeij ETG-Fachtagung "Bauelemente der Leistungselektronik und ihre Anwendungen", Bad Nauheim, April 2002

[1] Konferenzbeitrag "Stand und Entwicklungstendenzen bei schnellen Dioden" von Josef Lutz, Fachtagung Elektrische Energiewandlungssysteme, Magdeburg, 13-14. März 2002, S. 87-92

 
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2. Rekombinationszentren und tiefe Zentren in Silizium:

 

[9] "Possibilities and limits of axial lifetime control by radiation induced centers in fast recovery diodes" von R.Siemienic and J.Lutz, Microelectronics Lournal, Vol. 35, No.3,pp259-269, 2004.
http://Elsevier Science Direct

[8] Konferenzbeitrag "Analysis of Dynamic Impatt Oscillations caused by Radiation Induced Deep Centers" von R.Siemienic, R.Herzer and J.Lutz, ISPSD 2003, Cambridge/GB, 2003

[7] Konferenzbeitrag "Analyse der durch tiefe bestrahlungsinduzierte Zentren hervorgerufenen dynamischen Impatt-Oszillation" von Josef Lutz und Ralf Siemieniec 31.Kolloquium Halbleiter-Leistungsbauelemente und ihre systemtechnische Integration, Freiburg, 2002

[6] Konferenzbeitrag "Parameters of Radiation-Induced Centers for Simulation of Irradiated Power Devices" von R.Siemieniec, J.Lutz, W.Südkamp, R.Herzer,MIEL 2002, Niš/Yugoslavia, 2002

[5] "Determination of Parameters of Radiation Induced Traps in Silicon" von R.Siemieniec, W.Südkamp, J.Lutz, Solid-State Electronics, Vol.46, No.6, pp.891-901, 2002

[4] Konferenzbeitrag "Axial Lifetime Control by Radiation Induced Centres in Fast Recovery Diodes" von R.Siemieniec, J.Lutz, ISPS 2002, Prague, 2002

[3] Konferenzbeitrag "APPLYING DEVICE SIMULATION FOR LIFETIME-CONTROLLED DEVICES" von R.Siemieniec, W.Südkamp, J.Lutz , ICCDCS 2002 (International Caracas Conference on Devices, Circuits and Systems), Aruba, 2002

[2] Konferenzbeitrag "Simulation von Bauelementen mit strahlungsinduzierten Rekombinationszentren" von R.Siemieniec, J.Lutz, W.Südkamp, 30.Kolloquium Halbleiter-Leistungsbauelemente und ihre systemtechnische Integration, Freiburg, 2001

[1] Konferenzbeitrag "Temperature Dependent Properties of Different Lifetime Killing Technologies on Example of Fast Power Diodes" von R.Siemieniec, W.Südkamp und J.Lutz; Proceedings of the IETA, Kairo 2001
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3. Dynamischer Avalanche:

Lawinendurchbruch (Avalanche) bestimmt das Sperrvermögen von Leistungsbauelementen. Bei sehr schnellen Schaltvorgängen werden aber Bauelemente schon mit Spannung beaufschlagt, während sie noch freie Ladungsträger enthalten, und es kann dynamischer Avalanche auftreten. Bestimmte Bauelemente erweisen sich als robuster, als nach ersten Annahmen zu erwarten war. Aber es gibt Grenzen.

[6] Konferenzbeitrag "Influence of Buffer Structures on Static and Dynamic Ruggedness of High Voltage FWDs" von B.Heinze, H.P.Felsl, A. Mauder, H.-J. Schulze and J.Lutz, 17th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD05), 23 - 26.May 2005, Santa Barbara, Ca., USA, Conference Proceedings, pp.215-218

[5] Konferenzbeitrag "Avalanche and Post Avalanche Behavior of High Voltage Diodes" von H.P.Felsl, B.Heinze and J.Lutz, 7th International Seminar on Power Semiconductors (ISPS), 31.Aug.-3.Sept. 2004, Prag, Czech Republik, Conference Proceedings, pp.83-88

[4] Konferenzbeitrag "The Influence of Bulk Parameters on the Switching Behavior of FWDs for Traction Application" von H.P.Felsl, J.Lutz and E.Falck, M.Pfaffenlehner, 24th International Conference on Microelectronics (MIEL), 16.-19. Mai 2004, Nis, Serbia, Conference Proceedings, pp.153-156.

[3] Erkenntnisse, Aufgabenstellungen "Dynamischer Avalanche in schnellen Dioden" von Josef Lutz und Martin Domeij 31. Kolloquium Halbleiter-Leistungsbauelemente und ihre systemtechnische Anwendung, Freiburg 2002

[2] Veröffentlichung "Stable and unstable dynamic avalanche in fast Silicon Power Diodes" von M. Domeij, J. Lutz und D. Silber; Proceedings of the 31th European Solid-State Device Research Conference, p. 263, Nuremberg, September 2001

[1] Veröffentlichung "Stable dynamic avalanche in Si power diodes" von M. Domeij, B. Breitholtz, M. Östling, und J. Lutz; Apllied Physics Letters Vol. 74 No 21 (1999)
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4. Zuverlässigkeit von Leistungsmodulen:

Elektrisch isolierte Module sind die wichtigste Bauform moderner Leistungsbauelemente. Die hohe Leistungsdichte bei modernen Leistungshalbleitern stellt sehr hohe Anforderungen an die Aufbau- und Verbindungstechnik. Die verschiedenen Materialien weisen unterschiedliche thermische Ausdehnung auf. Daraus resultiert thermisch-mechanischer Stress, der die Zuverlässigkeit begrenzt. An verbesserten Lösungen wird gearbeitet.

[6] Konferenzbeitrag "Double-Sided Low-Temperature Joining Technique for Power Cycling Capability at High Temperature" von R. Amro, J. Lutz, J. Rudzki, M. Thoben, A. Lindemann; European Conference on Power Elelctronics and Applications (EPE 2005), Dresden, Germany, 2005

[5] Konferenzbeitrag "Analysis of Plasma Extraction Transit Time Oscillations in Bipolar Power Devices" von R.Siemienic, P.Mourick, M. Netzel and J.Lutz, ISPSD 2004, Kitakyushu, Japan

[4] Konferenzbeitrag "Power Cycling with High Temperature Swing of Discrete Components based on Different Technologies" von R. Amro, J. Lutz, A. Lindemann; IEEE Power Electronics Specialists Conference 2004 (PESC04), Aachen, Germany, 2004, pp. 2593-2598

[3] Konferenzbeitrag "Evaluation of a DCB based Transfer Molded Component with High Temperature Swings" von R. Amro, J. Lutz, A. Lindemann; PCIM 2004, Nuremberg, Germany,2004, pp. 574-578

[2] Konferenzbeitrag "Pett-Schwingungen in Leistungsmodulen mit parallel geschalteten Bauelementen" von R.Siemienic and J.Lutz, 32. Kolloquium Halbleiter-Leistungsbauelemente und systemtechnische Integration, Freiburg, 2003

[1] Seminar "APPLICATION OF MOSFET AND IGBT POWER MODULES" von Josef Lutz und Tobias Reimann, PCIM 2002 Conference, Nuremberg/Germany Seminar 08 Monday, May 13, 2002
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5. Regenerative Energien:

[18] "Modular Converter for Fuel Cell Systems with Buffer Storage " von Mehlich, Bodach, Sickel, Vetters, Bocklisch, Lutz; 11th European Conference on Power Electronics and Applikations - EPE, Dresden, on September 12-14, 2005

[17] "Power Quality in Low Voltage Grids with Storage Units and a High Penetration of Distributed Power Generation " von Bodach, Flemming, Mehlich, Hiller, Lutz; PCIM Europe 2005, Nuremberg

[16] "Netzoptimierte Betriebsweise dezentraler Brennstoffzellen" von Mehlich, Bodach, Lutz, Hiller, Sickel; 5. Fachtagung Brennstoffzelle VDI, Hamburg 2005

[15] "Increasing the Maximum Connecting Capacity for Photovoltaic Systems in Low-Voltage Networks Using Short-Time Storage Systems " von Bodach, Flemming, Mehlich, Scheffler, Hiller; CIGRE Symposium, Athens, Greece on April 13-16, 2005

[14] "Modellbildung und Simulation eines 2,5 kW PEM-Brennstoffzellensystems" von Bocklisch, Mehlich; Sächsischer Brennstoffzellenworkshop, Glaubitz 2004

[13] "ATP Simulations of the Dynamic Behaviour of Grid-Coupled Distributed Power Systems Including Storage Units" von Bodach, Flemming, Völler, Mehlich, Hartig, Hiller, Verstege; European EMTP-ATP Users Group Meeting 2004 and European EMTP-ATP Conference, Trondheim, Norway on October 03-05, 2004

[12] "Supercaps f¨r fluktuierende dezentrale Energieeinspeiser" von Mehlich, Bodach, Hiller, Lutz; Automotiv Elektrochemical Simulation Workshop, Sindelfingen 2004

[11] "Bewertung der Netzeinspeisung dezentraler Energieanlagen" von Mehlich, Bodach, Lehmann, Eller, Hiller, Lutz; VDE Kongress 2004

[10] "Leistungsbilanz dezentral gespeister Niederspannungs-Netzbezirke in Wohnsiedlungsgebieten" von Scheffler, M. Bodach, Reichel; VDE Kongress 2004, Berlin

[9] "Universal storage model for simulated grid connections in ATP" von Völler, Bodach, Japanese EMTP Journal Vol. 5, Kyoto 2004, Japan

[8] "Supercaps als Kurzzeitspeicher in verteilten Energieerzeugungssystemen" von Mehlich, Bodach, Völler, Hiller, Lutz; Tagung Haus der Technik: "SuperCaps - Energiespeicher mit hoher Leistungsdichte", 23-24 Juni 2004, Essen

[7] "Anticipating Fluctuations from Photovoltaics in the Local Power System" von Woyte, Bodach, Belmans, Nijs; 19th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition, Paris, 2004, ISBN 3-936338-14-0

[6] "Even nowadays Supercaps for PV-Systems?" von M. Bodach, A. Woyte, H. Mehlich, A. Scheffler, W. Hiller, J. Lutz; 19th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition, Paris, 2004, ISBN 3-936338-14-0

[5] "Simulation of a grid connected hybrid storage system in ATP/EMTP" von M. Bodach, H. Mehlich, S. Völler; in ATP / EMTP PCIM Europe 2004, Nuremberg, ISBN 3-928643-39-8

[4] "Supercaps schon jetzt in PV-Systeme integrieren?" von M. Bodach, A. Woyte, H. Mehlich, W. Hiller, J. Lutz; 19. Symposium Photovoltaische Solarenergie, Kloster Banz - Bad Staffelstein 2004, ISBN 3-934681-32-8.

[3] Vortrag "UltraCaps in regenerativen Energiesystemen" von Bodach, ZVEI Frankfurt a.M.,2004

[2] "Universal storage model for simulated grid connections in ATP" von S. Völler, M. Bodach; European EMTP-ATP Users Group Meeting 2003 and European EMTP-ATP Conference, Graz, Austria, December 14-16, 2003, ISBN 3-901351-85-X.

[1] "Power Fluctuations in Microgrids Introduced by Photovoltaics: Analysis and Statistics" von Woyte, Bodach, Belmans, Nijs, 2nd European PV-Hybrid and Mini-Grid Conference, Kassel 2003, ISBN 3-934681-27-1
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